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| 针对微测评理念的自适应测验技术——基于CO-MIRT诊断模型 | |
| 作者姓名： | 孙雄飞1 王永明2 贾小君1 |
| 作者单位： | (1.北京学格科技有限公司测评研发部,北京 100031; 2.英国伦敦国王学院,精神病学、心理学和神经科学研究所,伦敦) |
| 摘 要： | 前人研究业已表明MIRT模型在自适应测验等诸多领域的测量优势,但面对当前国内教育行业在实践过程中的现状,仍无法有效地解决待测知识点数量、试题数量和测量精度之间的矛盾。对此,本次研究设计了CO-MIRT模型,经由前馈层、全连接层的操作以共享试题之间所传递的信息,以及通过控制层、L2正则化等操作来限制小样本测验下的过拟合,来达到降低估计误差的目的。本次研究采用蒙特卡洛模拟的方式验证了模型效果,并使用数学推演的方式给予理论上的证明。 |
| 关 键 词： | 微测评 自适应测验 多维能力参数 CO-MIRT模型 |
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